Relative Specular Reflectance Measurement

Bei der sogenannten "spiegelnden" oder "gerichteten" Reflexion wird das einfallende Licht symmetrisch zur Oberflächennormalen reflektiert. Bei der Bestimmung des relativen gerichteten Reflexionsgrads wird die gerichtete Reflexion im Verhältnis zu der einer Referenzprobe bestimmt. Wie in der Abbildung gezeigt, wird der Reflexionsgrad des Referenzmaterials als 100 % angenommen und der Reflexionsgrad der Probe relativ zu dieser gemessen. Diese Methode wird häufig zur Untersuchung von Halbleitern, optischen Materialien und Multilayer-Filmen eingesetzt.