EDX-8100 - Features

Große Probenkammer mit kleinem Platzbedarf

Aufgrund seiner kompakten Gehäusegröße ist die installierte Breite 20 % kleiner als beim Vorgängergerät (EDX-720).
Der EDX-8100 kann Proben bis zu einer maximalen Größe von B300 x T275 x ca. H100 mm untersuchen.

Gut sichtbare LED-Lampe

Wenn Röntgenstrahlen erzeugt werden, schalten sich eine Röntgenanzeige an der Rückseite des Instruments und eine X-RAYS ON-Leuchte an der Vorderseite ein, sodass der Instrumentenstatus auch aus der Entfernung überwacht werden kann.

Der leistungsstarke SDD-Detektor und die optimierte Hardware erreichen ein bisher unerreichbares Maß an Empfindlichkeit, Analysegeschwindigkeit und Energieauflösung. Es unterstützt die Analyse leichter Elemente von ₆C bis zu den Lanthanoiden und kann in Verbindung mit der Helium-Substitutionsoption verwendet werden, um flüssige Proben, die leichte Elemente (F bis Al) enthalten, unverändert zu analysieren.

Hohe Empfindlichkeit – untere Nachweisgrenze um das 1,5- bis 5-fache verbessert! −

Der leistungsstarke SDD-Detektor und die Kombination aus optimierter Optik und Primärfiltern erreichen bisher unerreicht hohe Empfindlichkeiten. Die Empfindlichkeit ist im gesamten Bereich von leichten bis schweren Elementen höher als beim bisherigen Si (Li)-Halbleiterdetektor.

Hohe Geschwindigkeit − Durchsatzsteigerung um bis zu Faktor 10 −

Die hohe Fluoreszenzröntgenzahl pro Zeiteinheit (hohe Zählrate) des SDD-Detektors ermöglicht eine hochpräzise Analyse in kürzerer Messzeit. Diese Funktion wird optimal erreicht, wenn Proben analysiert werden, die viele fluoreszierende Röntgenstrahlen erzeugen, wie beispielsweise Proben mit einem Metall als Hauptbestandteil.

Hohe Auflösung

Durch den Einbau eines hochmodernen SDD-Detektors erreichen die EDX-8100-Instrumente im Vergleich zu Vorgängermodellen eine überlegene Energieauflösung.
Dadurch werden die Auswirkungen überlappender Peaks verschiedener Elemente reduziert und die Zuverlässigkeit der Analyseergebnisse erhöht.

Kein flüssiger Stickstoff erforderlich

Die hohe Fluoreszenzröntgenzahl pro Zeiteinheit (hohe Zählrate) des SDD-Detektors ermöglicht eine hochpräzise Analyse in kürzerer Messzeit. Diese Funktion wird optimal erreicht, wenn Proben analysiert werden, die viele fluoreszierende Röntgenstrahlen erzeugen, wie beispielsweise Proben mit einem Metall als Hauptbestandteil.

Bereich der erkannten Elemente

• Zur Messung leichter Elemente ist eine optionale Vakuummesseinheit oder Heliumspüleinheit erforderlich (₁₅P und darunter) mit dem EDX-8100.
• Die unteren Nachweisgrenzen variieren je nach Probenmatrix oder koexistierenden Elementen.
• Untere Nachweisgrenze des leichten Elements (₂₀Ca und darunter) verschlechtern sich, wenn der Probenzellenfilm verwendet wird.
• Es ist unmöglich zu messen ₈O und darunter mit Probenzellfolie.

Analyse ultraleichter Elemente mit EDX-8100

Profil von Fluor (F) durch EDX-8000

Der EDX-8100 verfügt über einen SDD-Detektor mit einem speziellen ultradünnen Fenstermaterial, das ultraleichte Elemente wie Kohlenstoff (C), Sauerstoff (O) und Fluor (F) erkennen kann.

Geeignet für alle Arten von Proben, von klein bis groß, von Pulvern bis hin zu Flüssigkeiten. Zu den Optionen gehören eine Vakuummesseinheit und eine Heliumspüleinheit für die hochempfindliche Messung leichter Elemente sowie ein Revolver für 12 Proben für automatisierte kontinuierliche Messungen.

Beispielbeobachtungskamera und Kollimatoren

Automatische Kollimatorumschaltung in vier Stufen: 1, 3, 5 und 10 mm Durchmesser

Wählen Sie die Bestrahlungskammer entsprechend der Probengröße aus vier Werten aus.
Wählen Sie den am besten geeigneten Bestrahlungsdurchmesser für die Probenform: 1 mm Durchmesser für die Analyse von Fremdkörperspuren oder Defekten; 3 mm oder 5 mm Durchmesser für kleine Probenvolumina.

Beispielhafte Beobachtungskamera im Lieferumfang enthalten

Verwenden Sie die Probenbeobachtungskamera, um die Röntgenbestrahlungsposition an einer bestimmten Position zu bestätigen, um kleine Proben, Proben mit mehreren Bereichen oder bei Verwendung einer Mikro-Röntgenzelle zu messen.

Automatischer Austausch von fünf Primärfiltern

Primärfilter erhöhen die Nachweisempfindlichkeit, indem sie die kontinuierliche Röntgenstrahlung und die charakteristische Röntgenstrahlung der Röntgenröhre reduzieren. Sie eignen sich zur Analyse von Spurenelementen.
Der EDX-8100 verfügt standardmäßig über fünf Primärfilter (sechs, einschließlich der offenen Position), die mithilfe der Software automatisch geändert werden können.

Kombinieren Sie Kollimatoren und Primärfilter frei

Die Kollimatoren und Primärfilter werden unabhängig voneinander betrieben und können entsprechend den spezifischen Anforderungen kombiniert werden. Wählen Sie aus 24 verfügbaren Optionen (6 Filter x 4 Kollimatoren) die optimale Kombination aus.
Eine quantitative Analyse mit der FP-Methode ist mit allen Kombinationen möglich.

Optionale Vakuummesseinheit und Helium-Spüleinheit

Die Empfindlichkeit für leichte Elemente kann durch Entfernen der Atmosphäre erhöht werden. Es stehen zwei Optionen zur Verfügung: eine Vakuummesseinheit und eine Helium-Spüleinheit.
Die Helium-Spüleinheit ist wirksam bei der Messung von flüssigen Proben und Proben, die ein Gas erzeugen und nicht im Vakuum gemessen werden können.

Erweiterte Helium-Spüleinheit (Option)

Dieses proprietäre System (japanisches Patent Nr. 5962855) spült das Instrument effizient mit Heliumgas, um eine Reduzierung der Spülzeit und des Heliumgasverbrauchs um etwa 40 % im Vergleich zu früheren Geräten zu erreichen.
(Option für EDX-8100)

Profilvergleich in Luft und Helium nach dem Spülen
(EDX-8100 / Probe: Fluor in Fluorbeschichtungsmittel)

12-Proben-Revolver (Option)

Die Ergänzung des Revolvers ermöglicht automatisierte, kontinuierliche Messungen. Es verbessert den Durchsatz, insbesondere bei Messungen in Vakuum- oder Heliumatmosphäre.

Kalibrierungskurvenmethode

Eine Standardprobe wird gemessen und der Zusammenhang mit der Fluoreszenzröntgenintensität als Kalibrierkurve aufgezeichnet, die zur Quantifizierung unbekannter Proben verwendet wird.
Obwohl diese Methode die Auswahl einer Standardprobe in der Nähe der unbekannten Probe und die Erstellung einer Kalibrierungskurve für jedes Element erfordert, erreicht sie ein hohes Maß an Analysegenauigkeit.
Diese Methode unterstützt alle Arten von Korrekturen für koexistierende Elemente, einschließlich Absorptions-/Anregungskorrektur und Korrektur für überlappende Elemente.

Fundamentalparameter-Methode (FP).

Diese Methode nutzt theoretische Intensitätsberechnungen, um aus den gemessenen Intensitäten die Zusammensetzung zu bestimmen. Es ist ein leistungsstarkes Werkzeug für die quantitative Analyse unbekannter Proben in Fällen, in denen die Vorbereitung einer Standardprobe schwierig ist. (JP Nr. 03921872, DE Nr. 60042990. 3-08, GB Nr. 1054254, US Nr. 6314158)

Automatische Balance-Einstellfunktion (zum Patent angemeldet)
Um die FP-Methode auf Hauptkomponenten wie C, H und O anzuwenden, ist eine Balance-Einstellung erforderlich. Die Software stellt die Balance automatisch ein, wenn sie anhand der Profilform feststellt, dass eine Balance-Einstellung erforderlich ist.

Film-FP-Methode

Das Gerät bietet auch die Funktion der Dünnschicht-FP-Methode. Die Film-FP-Methode ermöglicht die Messung der Filmdicke von mehrschichtigen Filmen sowie die gleichzeitige Messung der Filmdicke und der quantitativen Filmzusammensetzung.
Bei Verwendung der Film-FP-Methode können das Substratmaterial, die Abscheidungssequenz und die Elementinformationen eingestellt werden.

Hintergrund-FP-Methode

Die Hintergrund-FP-Methode fügt der herkömmlichen FP-Methode, die nur die Fluoreszenzröntgen-Peakintensität (Nettopeakintensität) berechnet, Berechnungen für gestreute Röntgenstrahlen (Hintergrund) hinzu.
(Patent angemeldet: Japanisches Patent Nr. 5975181)
Diese Methode ist wirksam bei der Verbesserung der Quantifizierungsgenauigkeit für kleine Mengen organischer Proben, der Filmdickenmessungen unregelmäßig geformter plattierter Proben und der Filmdickenmessungen organischer Filme.

Matching-Funktion

Passende Ergebnisse

Die Matching-Funktion vergleicht Analysedaten für eine Probe mit einer vorhandenen Datenbibliothek und zeigt die Ergebnisse in absteigendem Vertrauensgrad an.
Die Bibliothek enthält Inhaltsdaten und Intensitätsdaten und der Benutzer kann jeden Typ registrieren. Die Inhaltsdatenwerte können manuell eingegeben werden.

Einfache Inbetriebnahme des Instruments

PCEDX Navi ermöglicht die Instrumenteninitialisierung und -inbetriebnahme (Röntgeninbetriebnahme) mit einfachen Mausklickvorgängen.
Nach dem Gerätestart ist die Stabilisierungsfunktion 15 Minuten lang aktiv. Während dieser Zeit sind Analysen und Geräteprüfungen deaktiviert, um sicherzustellen, dass alle Benutzer Daten in einer stabilen Geräteumgebung sammeln.

Automatische Inbetriebnahme der Röntgenröhre

Wenn eine Röntgenröhre längere Zeit nicht verwendet wurde, muss sie neu aktiviert werden, bevor sie wieder verwendet werden kann. Je nach Zeitraum der Nichtbenutzung führt die Software automatisch die entsprechende Schritte durch.

Bedingung Passwortschutz

Die Software bietet einen Passwortschutz. Bedingungseinstellungen und -änderungen können nur durch eine Person vorgenommen werden, die das Passwort eingibt.

Enthält allgemeine Analysesoftware

EDX-8100 enthält die PCEDX Pro-Software, die über flexiblere Funktionen verfügt. Diese Software bietet Analyse, Bedingungseinstellungen und Datenverarbeitung mit vertrauten Vorgängen. Es ermöglicht auch das Laden von Datenprofilen und Quantifizierungswerten, die mit einem früheren Instrument der Shimadzu EDX-Serie erfasst wurden.

Funktionen zur Berichterstellung

Analysedatenberichte können im HTML- oder Excel-Format erstellt werden. Es stehen verschiedene Vorlagen zur Verfügung.
Das beim Start der Messung automatisch gespeicherte Beispielbild wird zur Bestätigung der Messposition in den Bericht eingefügt.

Listenerstellungsfunktionen

Listen der Analyseergebnisse für mehrere Proben können im Excel-Format erstellt werden. In der Liste können Daten zur detaillierten Anzeige oder Bearbeitung ausgewählt werden. Es stehen verschiedene Vorlagen zur Listenerstellung zur Verfügung, darunter eine Liste RoHS-spezifischer gefährlicher Elemente und benutzerdefinierte Elementlisten.