EDX-7200 - Anwendungen

Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer

{"hasMore":true,"more":{"id":"tbaleAnchor_more","label":"Zus\u00e4tzlich"},"anchors":[{"id":"tbaleAnchor_applications","label":"Anwendungen"},{"id":"tbaleAnchor_technical","label":"Technische Dokumente"},{"id":"tbaleAnchor_manual","label":"Bedienanleitungen"}]} {"title":"Anwendungen","columnTitle":"Anwendungen","source":"product","key":4641,"filter_types":["applications","application_note","posters"],"config_list":[],"anchor":"tbaleAnchor_applications","filter":true} {"title":"Technische Dokumente","columnTitle":"Technische Dokumente","source":"product","key":4641,"filter_types":["technical","technical_reports","white_papers","primers"],"config_list":[],"anchor":"tbaleAnchor_technical","filter":true} {"title":"Bedienanleitungen","columnTitle":"Bedienanleitungen","source":"product","key":4641,"filter_types":["manuals"],"config_list":[],"anchor":"tbaleAnchor_manual","filter":true}

Umfassende Anwendungen

Pulver (feine Partikel und grobe Partikel)-Qualitative und quantitative Analyse von Gesteinen-

Die Analyse von Pulverproben ist eine typische Anwendung der Röntgenfluoreszenz. Die Probe wird entweder druckgeformt oder zur Analyse in einen Probenbehälter gegeben. Die folgende Abbildung zeigt ein Beispiel für die qualitative und quantitative Analyse von Gesteinsreferenzmaterial von Na bis U.
Auch ohne Standardprobe ist eine genaue Quantifizierung möglich. Leichte Elemente können auch durch Vakuumatmosphärenmessung mit hoher Empfindlichkeit gemessen werden.

Peak Profile of Rock Reference Material

Flüssigkeit, Schlamm und Emulsion-Schwere Elemente im Altöl-

Um eine flüssige Probe zu messen, geben Sie die Probe einfach in eine Probenzelle. Diese Methode ist effektiv für die Erkennung und Quantifizierung von Additivkomponenten und abgenutzten Metallen in wässrigen Lösungen, organischen Lösungsmitteln oder Ölen.
Wie unten gezeigt, erreicht das System eine ausreichende Erkennung schwerer Elemente in Altöl im ppm-Bereich.

Overlaid Profiles of Heavy Elements in Waste Oil

Bewertung von Fremdkörpermaterialien-Fremdstoffe haften am extrudierten Kunststoffteil-

EDX ermöglicht die zerstörungsfreie Elementarprüfung und eignet sich daher effektiv für die Analyse von Fremdkörpern, die an Lebensmitteln, Arzneimitteln oder Produkten anhaften oder mit diesen vermischt sind. Der Einsatz der Probenbeobachtungskamera und der Kollimatoren erleichtert die Identifizierung von Spuren von Fremdkörpern.
Der Bestrahlungsdurchmesser von 1 mm reduziert wirksam die Auswirkungen des peripheren Materials und führt zu einer genauen quantitativen Anpassung. Im Beispiel wurde das Material als SUS316 identifiziert.

Foreign Matter Material Evaluation

Restkatalysator-Analyse mittels Streustrahlungskorrektur-

EDX eignet sich auch zum Testen von Katalysatorrückständen und zur quantitativen Analyse von Restkatalysatoren. Während der organischen Synthese wird häufig die ICP-Analyse verwendet.
Die Vorbehandlung ist jedoch umständlich und es dauert lange, bis Ergebnisse erzielt werden. EDX macht quantitative Analysen einfach.
Das Folgende ist ein Beispiel für die quantitative Analyse von Pd in organischem Material (Zellulose) unter Verwendung einer Kalibrierungskurve, die mit einer wässrigen Standard-Pd-Lösung erstellt wurde. Durch die Verwendung der Standardkorrektur in der Streulinie wird der Unterschied zwischen den Materialien Wasser und Zellulose korrigiert. Darüber hinaus entspricht das quantitative Ergebnis dem Fall einer ausreichenden Menge, selbst wenn die Probenmenge gering ist.

Residual Catalyst

ーScreening-Analyse von Phosphorー

Phenol und Isopropylphosphorsäure (3:1) (PIP (3:1)) werden häufig in Produkten wie Polyvinylchlorid (PVC) und Polyurethan verwendet, um Plastizität und Flammschutz zu gewährleisten. Inzwischen hat die US-Umweltschutzbehörde (US EPA) damit begonnen, die Herstellung, Verarbeitung und den Handel von Produkten und Artikeln, die PIP (3:1) enthalten, im Rahmen des Toxic Substances Control Act (TSCA) zu regulieren.
Für diese Regelung ist EDX in der Lage, den Gehalt an PIP (3:1), einer Phosphorverbindung, zu überprüfen und zu analysieren.
Durch den Einsatz einer optionalen Vakuummesseinheit kann die Analyse mit noch höherer Empfindlichkeit durchgeführt werden.

* EDX erkennt Gesamtphosphor, nicht nur aus PIP (3:1).
Wird Phosphor nachgewiesen, GC/MS kann helfen festzustellen, ob der Phosphor aus PIP(3:1) stammt.

PIP(3:1) Structural Formula

PIP(3:1) Strukturformel

  • Profile Superposition of Sample Containing PIP(3:1) and Blank

    Profilüberlagerung einer Probe mit PIP(3:1) und Leerwert

    *Die Nachahmungsprobe mit PIP(3:1) wird durch Zugabe von PIP(3:1) zu Petrolether hergestellt, sodass die Konzentration an Phosphor (P) 1000 ppm beträgt. Darüber hinaus wird als Werkstoff PVC angenommen und zur Beimischung von Chlor (Cl) Chlorparaffin zugesetzt.

  • Prole Superposition of Vacuum and Atmosphere Measurements of Actual samples Containing PIP

    Profilüberlagerung von Vakuum- und Atmosphärenmessungen
    der tatsächlichen Proben, die PIP enthalten

ーDicken- und Zusammensetzungsmessung von elektrolosen Ni-P-Beschichtungsfilmenー

Mit der Dünnschicht-FP-Methode kann die Dicke von Mehrschichtfilmen gemessen oder gleichzeitig die Dicke und Zusammensetzung von Filmen quantifiziert werden.
Nachfolgend ein Beispiel für die Quantifizierung der 4,8 µm Dicke eines Beschichtungsfilms und der Konzentration seiner Hauptbestandteile Ni und P. Es wurden auch Spuren von Pb nachgewiesen.

Thickness and Composition Measurement of Elec troless Ni-P Plating Films

Beschichtung, dünne Schichten-Dickenmessung der Beschichtung auf unregelmäßig geformten Proben-

EDX führt die Messung der Beschichtungsdicke ohne Standardprobe mithilfe der Dünnschicht-FP-Methode durch. Quantitative Fehler können jedoch bei unregelmäßig geformten Proben zunehmen, da bei der Dünnschicht-FP-Methode davon ausgegangen wird, dass die Proben eine flache Oberflächenbeschaffenheit aufweisen. Neue Funktionen der Hintergrund-FP-Methode ermöglichen die Messung der Beschichtungsdicke mit weniger Fehlern bei unregelmäßig geformten Proben, wie z. B. einem Schaftteil der Schraube. Ein Beispiel für die Dickenmessung von verzinkten Schrauben ist unten dargestellt.

Plating, Thin Films

Probenvorbereitung

Solide Proben

 

Solid Samples
  • Vorbehandlung von Metallproben
    Um die Quantifizierungsgenauigkeit für Metallproben zu verbessern oder die Auswirkungen von Kontamination oder Oxidation auf der Probenoberfläche zu beseitigen, empfiehlt sich das bearbeiten und polieren der Probenoberfläche mit einer Drehmaschine und einer Rotationspoliermaschine.
  • Pretreatment of metal samples

Flüssige Proben

 

Liquid Samples

Pulverproben

 

Powder Samples
  • Pulverizing Samples

    Proben pulverisieren
    Pulverisieren Sie Proben mit grober Partikelgröße oder Proben, die den Auswirkungen einer Ungleichmäßigkeit der Mineralpartikel auf der Analyseoberfläche ausgesetzt sind.

  • Glass Bead Method

    Glasperlenmethode
    Die Glasperlenmethode ermöglicht eine hochpräzise Analyse von Oxidpulvern wie Gestein. Die Probe wird mit einem Flussmittel wie Li glasiert2B4Ö7.